随着信息技术时代的发展，而今信息化代表了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展，而且成为科技创新的核心力量。ICT市场前景广阔，那ICT测试治具来说吧：

 ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢？

 1、增强耐用度：ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。

 2、独有的永不间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。

 3、至目标测点精准度误差更严谨：ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。

ICT测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。

测试针是否是带动了ICT测试治具运行呢？测试针对于ICT测试治具作用确实蛮大的，以上分析你懂了吧？

测试针带动ICT测试冶具的运行吗?

随着信息技术时代的发展，而今信息化代表了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展，而且成为科技创新的核心力量。ICT市场前景广阔，那ICT测试治具来说吧：

ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢?

1、增强耐用度：ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。

2、独有的永不间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。

3、至目标测点精准度误差更严谨：ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。

ICT测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。

测试针是否是带动了ICT测试治具运行呢?测试针对于ICT测试治具作用确实蛮大的，以上分析你懂了吧?