我们都知道测试治具是具有测试功能的产品，那么它测试电阻值的方式是怎样的呢？

对于不同的电阻值，测试治具本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用，如此才不会因使用都的选择不当，因而产生过高的电压而烧坏被测元件。

测试治具帮其测试方式为：提供一个适当的固定电流源I，流经被测电阻R，再于被测电阻R两端，测量出Vr，由于Vr及I已知，利用Vr=IR公式，即可得知被测电阻R值。

该测试方法和上述固定电流源模式一样，只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或IC保护二极体(ICClampingDiode)时，对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右。

因二极体导电的关系，该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右，固无法量测出真正的Vr值，为解决此问题，只要将原先的电流源降低一级即可。

假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时，若使用上述固定电流源测试时，需要花费很长的时间，让电容充饱电荷，再去测量出Vr值，而得知R值，如此测试方法将增加ICT测试时间。

测试治具为解决此问题，可以将固定DC电流源改为0.2VDC固定电压源，直接接于被测电阻两端，如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0，故电路上所有电流将流经电阻R。

测试治具测量方式为：提供一个0.2VDC电压源，当Ic=0时，再测试流经电阻两端的Ir，因为V=IrR，而V及Ir已知，即可得知电阻R的值。